納米晶尺寸&瑕疵檢測(cè)方案，無(wú)線充電背后大有文章!

從手機(jī)誕生的那一刻起，一根根的USB數(shù)據(jù)線也“形影不離”地走過了十多年的旅程；然而，數(shù)據(jù)線在很多時(shí)候卻成為了手機(jī)使用者的羈絆，要么長(zhǎng)度不夠，要么插孔沖突。后來，手機(jī)無(wú)線充電功能橫空出世，免去了“插線”的煩惱，為手機(jī)充電方式提供了一個(gè)更加有效的解決方案。思瑞測(cè)量技術(shù)無(wú)線充電納米晶尺寸和瑕疵檢測(cè)設(shè)備.

無(wú)線充電原理主要采用的是“納米晶+線圈”方案。納米晶材料具有優(yōu)異的磁學(xué)和物理力學(xué)性能，線圈的接收功率大、溫升小、成本低。無(wú)線充電市場(chǎng)的興起，對(duì)于納米晶拉動(dòng)起到一定作用。

無(wú)線充電技術(shù)強(qiáng)勢(shì)帶動(dòng)納米晶的發(fā)展，也對(duì)納米晶的質(zhì)量提出了更高的要求，納米晶成品的尺寸及表面質(zhì)量對(duì)于后期的裝配以及自身的功能有著巨大的影響，這成了供應(yīng)商主要關(guān)注的質(zhì)量特征。

工作流程

無(wú)線充電檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)速度快，3s即可完成一個(gè)產(chǎn)品的全部測(cè)量過程。采用優(yōu)良部件進(jìn)行檢測(cè)：高像素工業(yè)相機(jī)、高精度鏡頭和探針、高速及高重復(fù)定位精度的轉(zhuǎn)移及下料四軸機(jī)械手。靈活使用了滾筒收卷系統(tǒng)方便快捷地進(jìn)行零件上料及回收空薄膜。先進(jìn)行相機(jī)視覺尺寸檢測(cè)，后拍照定位至探針測(cè)量站進(jìn)行瑕疵檢測(cè)，測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。另外，重復(fù)精度高。進(jìn)行LCR檢測(cè)時(shí)，通過壓力傳感器進(jìn)行壓力控制檢測(cè)，可靠性高。

隨著用戶對(duì)手機(jī)的續(xù)航及充電體驗(yàn)不斷提出新的要求，無(wú)線充電能充分利用碎片化時(shí)間為手機(jī)供電，在一定程度上解決用戶手機(jī)續(xù)航不足的痛點(diǎn)。無(wú)線充電技術(shù)已成各大手機(jī)廠商競(jìng)爭(zhēng)焦點(diǎn)，思瑞測(cè)量技術(shù)無(wú)線充電納米晶尺寸和瑕疵檢測(cè)設(shè)備，全自動(dòng)高效的進(jìn)行無(wú)線充電納米晶尺寸和瑕疵檢測(cè)，對(duì)其從雙重方向嚴(yán)格把關(guān)，為客戶創(chuàng)造了巨大的價(jià)值，得到了客戶的廣泛認(rèn)可！